Mikroskop atomárních sil (AFM)

Předmětem veřejné zakázky je dodávka mikroskopu atomárních sil pro účely provádění analýzy topologie povrchu terčových a optických materiálů (polymery, iontové krystaly, skla, polovodiče, kovy). Zadávací dokumentace včetně všech příloh je umístěna na profilu zadavatele: https://www.e-zakazky.cz/profil-zadavatele/74e987e1-b4a1-4571-b8b6-2cd93fe6f932 Na výše uvedeném profilu zadavatele budou uveřejňovány i případné veškeré další informace k zadávacímu řízení.